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        產品介紹|布魯克納米紅外光譜nanoIR3

        更新時間:2024-01-18瀏覽:1518次

        Bruker 公司的Anasys nanoIR3型納米紅外光譜測量系統,是一款基于原子力顯微鏡(AFM)的納米表征工具。其采用光熱誘導共振技術(PTIR,也稱AFM-IR),使紅外光譜的空間分辨率突破了光學衍射極限,提高至10納米級別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術曾榮獲2010年度美國R&D100大獎。

        下面是nanoIR3的技術優勢:

        1. 10nm高化學解析分辨率,揭示微區化學組分

        • 準確的微區化學表征:基于光熱誘導效應PTIR原理,與FTIR光譜吻合,沒有吸收峰的任何偏移;

        • 快光譜采集:光譜采集速度:<3s/光譜,光譜分辨率:   <1 cm-1

        • AFM成像速度一致的快速化學成像,全自動光路優化,避免實驗困惱;

        • 二維可視化光斑追蹤,保證佳信號;

        • 全自動軟件控制入射光束準直技術修正激光的偏移,動態能量調整,確保信號的準確性;


        嵌段共聚物P2VP&PS的AFM-IR光譜和紅外成像

         

        1. 寬中紅外激光,實現O-H, N-H, C-H等官能團的表征

        • 寬中紅外激光:800-3600 cm-1

        • 多種光源可選,可集成THz,同步輻射光源,可見光,近紅外,自由電子激光器等;

         


         

        • 3.支持全系列掃描探針顯微鏡模式。

        • Contact Mode(接觸模式)

        • Tapping Mode(輕敲模式)

        • Lateral Force Microscope(橫向力/摩擦力顯微鏡)

        • Phase Imaging(相位成像)

        • Magnetic Force Microscopy (磁力顯微鏡)

        • Electrostatic Force Microscopy (靜電力顯微鏡)

        • Conductive Atomic Force Microscopy (導電原子力顯微鏡)

        • Kelvin Probe Force Microscopy (開爾文探針力顯微鏡)

        • Force Curve Spectroscopy(力曲線)

        • Liquid Imaging(液態環境掃描)

        • Heater-Cooler Imaging(高低溫環境掃描)

        • SThM(掃描熱顯微鏡)

        • Nano-TA(納米熱分析)

        • LCR(洛倫茲納米力學分析)


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